Причины быстрой разрядки смартфонов изучат на СКИФе
Причины быстрой разрядки смартфонов изучат на СКИФе Мегасайенс-установку в Кольцове планируют использовать для экспериментов по выявлению причин разрушения аккумуляторов. По словам замдиректора ЦКП «СКИФ» Андрея Бухтиярова, проблема износа в том числе актуальна и для батарей в смартфонах — со временем источники питания теряют ёмкость. Почему это происходит, до сих пор непонятно. Учёные по всему миру пытаются выяснить, как увеличить их срок службы. Специалист пояснил, что во время опытов создают ячейки, куда внедряют необходимые составляющие. После чего через рентген изучают процессы деградации. Определив эти механизмы, можно сделать материал более долговечным. Исследования будут проводить сразу на нескольких станциях синхротрона — комплексный подход даст максимальное количество информации. «Это хорошо, что у нас такой центр появляется в стране. Раньше мы ездили куда-то в Европу, а это всегда конкурсные отборы. Ты никогда не знаешь, получишь в следующий раз время на проведение экспериментов или нет», — цитирует ТАСС Андрея Бухтиярова.