#НовостиНауки — 3 июля 2026 г. в 04:09:32.895
#НовостиНауки Бесконтактная терагерцовая диагностика динамики носителей заряда в кремнии, имплантированном примесью серы, с лазерным отжигом и без Усовершенствован бесконтактный метод оптической накачки и терагерцового зондирования, позволяющий измерять скорости рассеяния свободных носителей заряда и их рекомбинации Шокли-Рида-Холла в имплантированных примесью серы слоях кремния – как в исходном неупорядоченном, так и рекристаллизованном после лазерного отжига состояниях. Сегрегация примеси при высоких концентрациях была подтверждена результатами молекулярно-динамического моделирования. Читать подробнее --- #заряд #кремний #сера #лазер #отжиг #sulfur #laser #silicon @lpi_ras
252 просмотров