💁♂️ Китайская компания CIQTEK разработала просвечивающий электронный микроскоп TEM-F2...
💁♂️ Китайская компания CIQTEK разработала просвечивающий электронный микроскоп TEM-F200, предназначенный для высокоточного исследования материалов и полупроводниковых компонентов. Новое оборудование способно регистрировать структурные особенности образцов на субнанометровом уровне, а заявленный минимальный шаг цифрового изображения достигает 0,1 нанометра. Такая точность особенно востребована при изучении современных микросхем, поиске производственных дефектов и разработке новых материалов. 💁🏼♀️ TEM-F200 стало очередным достижением китайской научно-технической промышленности в области высокоточного измерительного оборудования. Производитель заявляет о самостоятельной разработке основных компонентов прибора, программного обеспечения и системы управления. Микроскоп уже подготовлен к серийному выпуску и поставкам заказчикам. Его появление должно укрепить позиции китайских производителей на рынке научных приборов, где традиционно доминируют компании из США и Японии. 🖥 Полный вариант статьи на нашем сайте