Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью иску... — 15 июня 2026 г. в 16:18:09.953
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 15. Автоматизация оптической инспекции печатных плат Статья Дарьи Дормидошинной, Юрия Евстифеева, Юрий Рубцова, АО «ЦКБ «Дейтон», в журнале "Электронные компоненты №5/2025 В этой части статьи рассматриваются последние достижения в поиске дефектов покрытий, охватывающие методы контроля на основе физических свойств и подходы на основе глубокого обучения (ГО). Статья по ссылке: https://russianelectronics.ru/razrabotka-i-vnedrenie-apak-dlya-poiska-defektov-izdelij-mikroelektroniki-s-pomoshhyu-iskusstvennogo-intellekta-chast-15
65 просмотров