Новости · 30 июля 2026 г.

С докладом "Климатические испытания на надежность электронных изделий: методы и оборудо... — 30 июля 2026 г. в 06:23:43.216

С докладом "Климатические испытания на надежность электронных изделий: методы и оборудование" на конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники", которая состоится 22 октября в Москве, выступит Peter Zhang, заместитель директора по продажам компании Komeg По мере развития электронных изделий в направлении большей интеграции, повышения производительности и усложнения условий эксплуатации производители сталкиваются с более жесткими требованиями к адаптивности к окружающей среде и долгосрочной надежности электронных компонентов, печатных плат, электронных модулей, полупроводниковых корпусов и готовых электронных изделий. В ходе научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ, проверки качества, испытаний на соответствие стандартам и анализа отказов различные продукты значительно отличаются по воздействию окружающей среды, условиям испытаний и конфигурации оборудования. В соответствии с российскими стандартами испытаний и требованиями EAC по оценке соответствия, данная презентация посвящена испытаниям на надежность электронных изделий в условиях высоких и низких температур, влажности, резких перепадов температуры, термического удара и высокоинтенсивного воздействия температуры и влажности (HAST). В ней рассматриваются применимые сценарии, ключевые условия испытаний, требования к оборудованию и практическое применение различных методов испытаний. План доклада: Требования к испытаниям на климатическую надежность и типичные проблемы для электронных изделий; Основные области и методы тестирования. Стандартные требования для различных тестируемых устройств; Конфигурации основного оборудования и модулей; Примеры практического применения Сайт конференции: b2bconf.ru/testing/