C докладом «От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированны... — 20 августа 2026 г. в 12:52:33.583
C докладом «От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий» на конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники" 22 октября в Москве выступит Татьяна Красик, PhD, IEEE Senior Member, независимый исследователь, эксперт в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования, автор методики поверки, применяемой в национальной метрологической системе более 10 лет. Доклад посвящён использованию данных автоматизированных функциональных испытаний не только для принятия решения «годен/не годен», но и для выявления скрытых и нестабильных дефектов электронных изделий. Будут рассмотрены подходы к анализу повторяющихся и пограничных результатов, выявлению отклонений в измеряемых параметрах и построению диагностических последовательностей, позволяющих быстрее локализовать причину неисправности. Отдельное внимание будет уделено практическим примерам из области RF/СВЧ-оборудования и способам сокращения времени диагностики без снижения достоверности испытаний. Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing